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DZDR-RL 热流法导热仪(低温)

DZDR-RL 热流法导热仪(低温) 导热系数测定仪

  • 简介:本产品已获三项专利。 实用新型专利:ZL201220427124.4 ZL201220427273.0 计算机软件著作权:2013SR087610 本仪器主要测试薄的热导体、固体电绝缘材料、导热树脂、氧化铝瓷、氧化铍瓷等陶瓷导
产品详细

本产品已获三项专利。
 
实用新型专利:ZL201220427124.4  ZL201220427273.0  计算机软件著作权:2013SR087610
 
本仪器主要测试薄的热导体、固体电绝缘材料、导热树脂、氧化铝瓷、氧化铍瓷等陶瓷导热系数测定。
 
仪器参考标准:MIL-I-49456A(绝缘片材、导热树脂、热导玻纤增强);GB5598-85(氧化铍瓷导热系数测定方法);D5470-95(薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准)等。 
 
广泛应用在大中院校,科研单位,质检部门和生产厂的材料分析检测。
 
 
 
技术参数:
 
1. 试样大小:长*宽300*300mm
 
2. 试样厚度:2-50mm
 
3. 温度范围:-20-80℃
 
4. 电源:220V/50HZ
 
5. 测试范围:0.015~10W/m•k
 
6. 测试精度:优于3%
 
7. 实现计算机自动测试,并实现数据打印输出

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